Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Profilometry stykowe

Bruker

W naszej ofercie znajdują się profilometry stykowe firmy Bruker.

Profilometria stykowa (kontaktowa) wykorzystuje sondę, która przesuwana jest po powierzchni próbki. Zmiany wychylenia ramienia sondy odzwierciedlają zmiany wysokości próbki, z których uzyskuje się geometrię powierzchni. Zalety metody to bardzo wysoka czułość i duża rozdzielczość w osi pionowej. Główne zastosowania to topografia powierzchni, grubość warstw i wysokość skoków oraz obrazowanie trójwymiarowe.

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.


Profilometry Dektak

Dektak to profilometry stykowe firmy Bruker, stanowiące dziesiątą generację urządzenia, które jest sukcesywnie rozwijane od ponad 50 lat. Służą one do kontaktowego pomiaru geometrii powierzchni z wysoką rozdzielczością pionową (1 Å) na próbkach o grubości do 50 mm i średnicy do 200 mm. Maksymalna rozpiętość pionowa cech lub obiektów powierzchniowych może wynosić 1 mm. Dostępny jest bogaty wybór dedykowanych stylusów; a dzięki narzędziu centrującemu ich wymiana jest szybka i bezpieczna. Sztywna konstrukcja z pojedynczym ramieniem zapewnia wyjątkową powtarzalność pomiarów (4 Å) oraz niski poziom szumu. Dzięki zastosowaniu wydajnych układów elektronicznych, zapewniających wysokie tempo akwizycji danych, uzyskiwanie map 3D nawet z dużych powierzchni jest wyjątkowo szybkie. Ponadto, dzięki opcji NLite+ możliwe jest stosowanie obciążeń już na poziomie 0,03 mg, co umożliwia pomiar kruchych i bardzo delikatnych próbek. Urządzenie sterowane jest funkcjonalnym i łatwym w obsłudze oprogramowaniem Vision64, które również umożliwia obróbkę wyników, generowanie map 3D oraz automatyzację procesu pomiarowego.

Modele: XT (nastołowy) i XTL (zintegrowana platforma)

DektakXT – prezentacja video:

FAQ

  • Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem DektakXT?

    Topografię i morfologię powierzchni, chropowatość powierzchni, grubość warstw powierzchniowych.

  • Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    Maksymalny rozmiar próbki to: średnica 200 mm, grubość 50 mm.

  • Jak należy przygotować próbkę?

    Przy preparatyce próbki do pomiarów topografii należy pamiętać, że maksymalny zakres pomiarowy urządzenia to 1 mm. Aby zbadać grubość warstwy, próbka musi posiadać stopień, tzn. obszar graniczny między podłożem i warstwą.

  • Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może zostać zautomatyzowany?

    Pomiar może być zautomatyzowany o ile urządzenie zostało wyposażone w odpowiedni stolik. Pomiar 2D trwa zwykle od kilku do kilkudziesięciu sekund. Natomiast pomiary 3D trwają od kilku do kilkudziesięciu minut. Czas pomiaru zależy od wielkości badanego obszaru oraz od parametrów skanowania.

  • W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    W przypadku pomiarów 2D wynikiem pomiaru jest krzywa 2D. Natomiast pomiar 3D daje obraz topografii badanej powierzchni.

  • Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?

    DektakXT jest urządzeniem kompaktowym i zajmuje ok. 1 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego lub biurka komputerowego.

  • Czy pomieszczenie, w którym będzie zainstalowane urządzenie musi spełniać szczególne wymagania?

    DektakXT jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała opowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz brak było zapylenia. Zaleca się także, aby pomieszczenie było izolowane od drgań w stopniu przynajmniej dostatecznym.

  • Czy urządzenie jest głośne i generuje inne uciążliwe czynniki?

    Nie.

  • Jakie są koszty części zużywalnych i eksploatacji urządzenia?

    Koszty eksploatacyjne są niskie. Materiałem eksploatacyjnym są igły pomiarowe (stylusy), które są bardzo trwałe. Zalecane są coroczne przeglądy serwisowe w celu konserwacji systemu.

  • Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    DektakXT jest urządzeniem modułowym i jego cena zależna jest od konfiguracji. Zakres cenowy to od 200 000 do 500 000 zł.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.