DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

W naszej ofercie znajdują się profilometry stykowe firmy Bruker.
Profilometria stykowa (kontaktowa) wykorzystuje sondę, która przesuwana jest po powierzchni próbki. Zmiany wychylenia ramienia sondy odzwierciedlają zmiany wysokości próbki, z których uzyskuje się geometrię powierzchni. Zalety metody to bardzo wysoka czułość i duża rozdzielczość w osi pionowej. Główne zastosowania to topografia powierzchni, grubość warstw i wysokość skoków oraz obrazowanie trójwymiarowe.
Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.
Dektak to profilometry stykowe firmy Bruker, stanowiące dziesiątą generację urządzenia, które jest sukcesywnie rozwijane od ponad 50 lat. Służą one do kontaktowego pomiaru geometrii powierzchni z wysoką rozdzielczością pionową (1 Å) na próbkach o grubości do 50 mm i średnicy do 200 mm. Maksymalna rozpiętość pionowa cech lub obiektów powierzchniowych może wynosić 1 mm. Dostępny jest bogaty wybór dedykowanych stylusów; a dzięki narzędziu centrującemu ich wymiana jest szybka i bezpieczna. Sztywna konstrukcja z pojedynczym ramieniem zapewnia wyjątkową powtarzalność pomiarów (4 Å) oraz niski poziom szumu. Dzięki zastosowaniu wydajnych układów elektronicznych, zapewniających wysokie tempo akwizycji danych, uzyskiwanie map 3D nawet z dużych powierzchni jest wyjątkowo szybkie. Ponadto, dzięki opcji NLite+ możliwe jest stosowanie obciążeń już na poziomie 0,03 mg, co umożliwia pomiar kruchych i bardzo delikatnych próbek. Urządzenie sterowane jest funkcjonalnym i łatwym w obsłudze oprogramowaniem Vision64, które również umożliwia obróbkę wyników, generowanie map 3D oraz automatyzację procesu pomiarowego.
Modele: XT (nastołowy) i XTL (zintegrowana platforma)
DektakXT – prezentacja video:
Topografię i morfologię powierzchni, chropowatość powierzchni, grubość warstw powierzchniowych.
Maksymalny rozmiar próbki to: średnica 200 mm, grubość 50 mm.
Przy preparatyce próbki do pomiarów topografii należy pamiętać, że maksymalny zakres pomiarowy urządzenia to 1 mm. Aby zbadać grubość warstwy, próbka musi posiadać stopień, tzn. obszar graniczny między podłożem i warstwą.
Pomiar może być zautomatyzowany o ile urządzenie zostało wyposażone w odpowiedni stolik. Pomiar 2D trwa zwykle od kilku do kilkudziesięciu sekund. Natomiast pomiary 3D trwają od kilku do kilkudziesięciu minut. Czas pomiaru zależy od wielkości badanego obszaru oraz od parametrów skanowania.
W przypadku pomiarów 2D wynikiem pomiaru jest krzywa 2D. Natomiast pomiar 3D daje obraz topografii badanej powierzchni.
DektakXT jest urządzeniem kompaktowym i zajmuje ok. 1 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego lub biurka komputerowego.
DektakXT jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała opowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz brak było zapylenia. Zaleca się także, aby pomieszczenie było izolowane od drgań w stopniu przynajmniej dostatecznym.
Nie.
Koszty eksploatacyjne są niskie. Materiałem eksploatacyjnym są igły pomiarowe (stylusy), które są bardzo trwałe. Zalecane są coroczne przeglądy serwisowe w celu konserwacji systemu.
DektakXT jest urządzeniem modułowym i jego cena zależna jest od konfiguracji. Zakres cenowy to od 200 000 do 500 000 zł.