Reflektometry spektroskopowe RM 1000 i RM 2000 firmy Sentech Instruments GmbH to urządzenia do pomiaru widma odbicia w zakresie odpowiednio VIS i UV-VIS oraz charakteryzacji cienkich warstw i podłoży na podstawie jego analizy. Główne zastosowanie to szybki, bezkontaktowy pomiar grubości warstw i układów warstw przeźroczystych lub słabo pochłaniających na podłożach przeźroczystych lub pochłaniających z dokładnością do 1 nm. Zakres pomiarowy grubości to 20 nm – 25 µm i 5 nm – 50 µm, odpowiednio. Ponadto, można wyznaczyć współczynniki odbicia, absorpcji i ekstynkcji warstw oraz podłoży. Obliczenia grubości i parametrów optycznych wykonywane są automatycznie przez oprogramowanie FTPadv Expert z wykorzystaniem dołączonej bazy z parametrami materiałowymi. Urządzenia można opcjonalnie wyposażyć w zautomatyzowany stolik X-Y, umożliwiający skanowanie próbki i uzyskiwanie map rozkładu wyznaczanych wielkości.

Modele: 1000 (430-930 nm, plamka 80 µm), 2000 (200-950 nm, plamka 100 µm)

formularz kontaktowy