Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

reflektometry RM

Sentech

Reflektometry spektroskopowe RM 1000 i RM 2000 firmy Sentech Instruments GmbH to urządzenia do pomiaru widma odbicia w zakresie odpowiednio VIS i UV-VIS oraz charakteryzacji cienkich warstw i podłoży na podstawie jego analizy. Główne zastosowanie to szybki, bezkontaktowy pomiar grubości warstw i układów warstw przeźroczystych lub słabo pochłaniających na podłożach przeźroczystych lub pochłaniających z dokładnością do 1 nm. Zakres pomiarowy grubości to 20 nm – 25 µm i 5 nm – 50 µm, odpowiednio. Ponadto, można wyznaczyć współczynniki odbicia, absorpcji i ekstynkcji warstw oraz podłoży. Obliczenia grubości i parametrów optycznych wykonywane są automatycznie przez oprogramowanie FTPadv Expert z wykorzystaniem dołączonej bazy z parametrami materiałowymi. Urządzenia można opcjonalnie wyposażyć w zautomatyzowany stolik X-Y, umożliwiający skanowanie próbki i uzyskiwanie map rozkładu wyznaczanych wielkości.

Modele: 1000 (430-930 nm, plamka 80 µm), 2000 (200-950 nm, plamka 100 µm)

formularz kontaktowy

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco