Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Ścieniarka jonowa RES102

Leica

RES 102 firmy Leica to uniwersalne urządzenie do przygotowania dowolnych próbek litych do obserwacji w mikroskopach elektronowych (SEM, TEM) i świetlnych (LM). Próbka umieszczona w próżni jest rozpylana jonami argonu generowanymi przez dwa działa jonowe. Kąt natarcia jonów na powierzchnię próbki można zmieniać w zakresie od 0 do 90°, a ich energię od 800 eV do 10 keV. Zastosowania to jedno- lub dwustronne końcowe pocienianie próbek TEM, oczyszczanie lamelek FIB, trawienie jonowe oraz wygładzanie i oczyszczanie powierzchni próbek SEM i LM. Można również preparować przekroje poprzeczne, a opcjonalny układ chłodzenia ciekłym azotem pozwala na obróbkę próbek wrażliwych na lokalne zmiany temperatury. RES 102 posiada ekran dotykowy ułatwiający obsługę, bezolejowy układ pompowy oraz śluzę do szybkiego ładowania próbki. Kolorowa kamera z zoomem zapewnia możliwość monitorowania (również zdalnego) próbki i rejestracji jej obrazu w trakcie rozpylania. Urządzenie wyposażone jest w automatyczny system detekcji perforacji próbek TEM, zarówno przeźroczystych i nieprzeźroczystych dla światła. Proces rozpylania jonowego jest w pełni sterowany komputerowo, dzięki czemu można programować złożone procesy, automatycznie je przeprowadzać oraz zapisywać w bazie danych.

formularz kontaktowy

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco