Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Scios

FEI Company

Scios to zaawansowany system typu DualBeam™ firmy FEI, w którym zastosowano wiele rozwiązań poprawiających wydajność, ergonomię, ułatwiających obsługę oraz rozszerzających możliwości badawcze. Kolumna elektronowa NiCol™ z działem SFEG umożliwia pracę systemu jako wysokopróżniowy, wysokorozdzielczy mikroskop SEM. Układ opóźniania wiązki zapewnia dobre parametry w zakresie niskich energii, już od 20 eV. Rozbudowany system detekcji elektronów obejmuje trzy detektory wewnątrzkolumnowe (układ Trinity), z których jeden posiada dwa segmenty, detektor ETD, pierścieniowo-segmentowy detektor CBS/ABS oraz prześwietleniowy detektor STEM3+. Możliwość niezależnego odczytu jednocześnie czterech sygnałów z aktywnych pól detektorów pozwala na szybką charakterystykę próbki oraz na dostrajanie kontrastu. System jest w pełni kompatybilny z detektorami EDS, WDS i EBSD. Kolumna jonowa Sidewinder™ emituje wiązkę jonów galu (FIB), która może być wykorzystana do modyfikacji powierzchni w skali nanometrycznej, kontrolowanej preparatyki próbek TEM i przekrojów poprzecznych oraz nanoszenia warstw. Wiązka jest stabilna i ma pożądany kształt w szerokim zakresie prądów jonowych i energii, co umożliwia szybkie, wysokoprądowe rozpylanie wstępne materiału oraz delikatne, niskoenergetyczne pocienianie i oczyszczanie końcowe. Zintegrowany manipulator EasyLift™ o wyjątkowo wysokiej odtwarzalności ruchu umożliwia precyzyjne pobieranie i przenoszenie lamelek na siatki. Mikroskop SCIOS sterowany jest przyjaznym interfejsem użytkownika, który dodatkowo sugeruje użytkownikowi dobór optymalnych parametrów wiązki i elementów elektrooptycznych.

formularz kontaktowy

Inne mikroskopy SEM/FIB: Versa 3D, Helios NanoLab

Produkty powiązane: detektory EDSWDS i EBSD, preparatyka – trymernapylarkipolerka jonowa i suszarkaakcesoria i materiały dla SDBplatformy antywibracyjnesystemy do kompensacji EMIAmira, Avizo, Auto Slice & View

Scios – prezentacja video:

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco