DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n i grubość powłoki.
Inne elipsometry: Sendira (spektralny), SENresearch (spektralny), SE 400adv (laserowy)
Produkty powiązane: reflektometry
Głównymi obszarami wykorzystania elipsometrów laserowych są:
Dla pojedynczego pomiaru czas wyznaczenia widma to 120 ms …. 1.5 s (w zależności od wybranego modu pomiarowego). Tak krótki czasu pomiaru predysponuje zastosowanie urządzenia w aplikacjach in-situ, m.in. do pomiaru wsp. GPC (ang. growth per cycle) w procesie ALD. Łatwe w użyciu oprogramowanie umożliwia przeprowadzenie pomiaru po naciśnięciu jednego przycisku z wykorzystaniem zapisanych w pamięci definicji dla konkretnego rodzaju materiału, które mogą zostać opracowane przez producenta przed dostarczeniem urządzenia lub stworzone samodzielnie przez użytkownika
Cena modelu SE 500adv to koszt rzędu 260 tyś. PLN netto w wersji podstawowej. W skład urządzenia w wersji podstawowej wchodzą: manualny goniometr z krokiem co 5º, stolik o średnicy 150 mm z ręczną regulacją przechyłu i przemieszczenia w osi Z, układ optyczny kompensator, polaryzator, analizator, oprogramowanie SE400 advanced do obsługi urządzenia i analizy wyników, komputer PC z systemem operacyjnym Windows7. Dla modelu SE 500adv zestaw obejmuje dodatkowo: reflektometr pracujący w zakresie 450-920 nm oraz niezbędne oprogramowanie FTP advanced.