Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

SEM/SDB – FEI

FEI Company

FEI Company organizuje szkolenia podstawowe i zaawansowane z zakresu elektronowej (SEM) i elektronowo-jonowej (FIB/SEM, SDB) mikroskopii skaningowej w Nanoporcie FEI w Eindhoven (Holandia) lub w laboratorium użytkownika. Szkolenia te odbywają się w języku angielskim, a ich zakup dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft.

Harmonogram szkoleń w Eindhoven na bieżący rok
formularz kontaktowy

  • szkolenia podstawowe SEM:

Verios/Magellan, Nova NanoSEM, Quanta/Inspect W, Quanta/Inspect FEG (3 dni)
Trzydniowe szkolenia z zakresu podstaw mikroskopii SEM i zasad efektywnej obsługi mikroskopu, którego dotyczy szkolenie. Mają one nie tylko charakter operatorski, ale również silny akcent położony jest na zagadnienia aplikacyjne. Wszystkie szkolenia obejmują następujące zagadnienia, omówione na poziomie adekwatnym do możliwości mikroskopu, którego dotyczy szkolenie: zapoznanie z mikroskopem (interfejs użytkownika, czynności konserwacyjne), oddziaływanie wiązki elektronowej z materią (objętość interakcji, generacja użytecznych sygnałów), procedury obsługi (podstawy, justowanie działa i kolumny elektronowej, dobór parametrów wiązki i optymalizacja pracy mikroskopu), obrazowanie (detektory właściwe dla danego mikroskopu, optymalizacja parametrów obrazowania), tryby próżniowe (HV, LV i ESEM i ich specyfika, zależnie od mikroskopu), podstawy spektroskopii EDS oraz preparatyka próbek.

  • szkolenia zaawansowane SEM:

ESEM (Peltier Cooling Stage, 2 dni)
Specjalistyczne, dwudniowe szkolenie aplikacyjne poświęcone prowadzeniu badań SEM w trybie środowiskowym (ESEM™) i z wykorzystaniem stolika chłodzącego Peltiera, dostępnych w mikroskopach Quanta. Tryb środowiskowy w kombinacji ze stolikiem Peltiera umożliwia badanie próbek delikatnych oraz wykonywanie dynamicznych eksperymentów in situ, polegających na zmianie wilgotności w komorze. Szkolenie obejmuje wprowadzenie do obsługi i możliwości stolika Peltiera, optymalizację mikroskopu SEM do pracy w ESEM, procesy skraplania pary wodnej i odparowania wody oraz obrazowanie próbek w stanie uwodnionym. Wyraźnie zaleca się, aby uczestnicy odbyli wcześniej szkolenie podstawowe Quanta FEG.

Heating stage (2 dni)
Specjalistyczne, dwudniowe szkolenie aplikacyjne dla użytkowników mikroskopów Quanta z zakresu obsługi stolika grzewczego oraz jego zastosowań. Szkolenie obejmuje zapoznanie ze stolikiem grzewczym oraz jego parametrami użytkowymi, optymalizację mikroskopu do pracy ze stolikiem grzewczym oraz przeprowadzanie eksperymentów in situ, polegających na grzaniu próbek oraz rejestrowaniu wpływu zmian temperatury na strukturę próbki. Wyraźnie zaleca się, aby uczestnicy odbyli wcześniej szkolenie podstawowe Quanta FEG. 

Gunshot Residue (GSR, 2 dni)
Specjalistyczne, dwudniowe szkolenie specjalistyczne z analizy śladów i cząstek powystrzałowych (GSR), opartej na obrazowaniu SEM i spektroskopii EDS. GSR wykorzystywana jest w badaniach sądowych i kryminalistycznych. Szkolenie obejmuje praktyczne wprowadzenie do badań GSR oraz optymalizację parametrów mikroskopu i pakietu SEM. Pakiet GSR jest dostępny dla mikroskopów Quanta. Szkolenie jest przeprowadzane we współpracy z Eastern Analytical i odbywa się w Melmedy (Belgia), 160 km od Eindhoven. Wyraźnie zaleca się, aby uczestnicy odbyli wcześniej szkolenie podstawowe Quanta FEG.

  • szkolenia podstawowe SEM/FIB (SDB):

Helios 660 NanoLab/Nova NanoLab, Quanta 3D/Versa 3D, Scios (3 dni)
Trzydniowe szkolenia z zakresu podstaw SEM/FIB i zasad efektywnej obsługi mikroskopu, którego dotyczy szkolenie. Mają one nie tylko charakter operatorski, ale również aplikacyjny. Nacisk położony jest na pracę z wiązką jonową, ale omówione są też podstawy obrazowania SEM. Niezależnie od mikroskopu szkolenie obejmuje następujące zagadnienia: zapoznanie z mikroskopem (interfejs użytkownika, nawigowanie stolikiem, czynności konserwacyjne), oddziaływanie wiązki elektronowej i jonowej z materią (generacja użytecznych sygnałów i rozpylanie jonowe), procedury obsługi (podstawy, justowanie i dobór parametrów wiązek), rozpylanie jonowe (parametry wiązki jonowej, przekroje poprzeczne), nakładanie warstw wspomagane wiązką jonową i elektronową (GIS, dobór parametrów) oraz podstawy obrazowania SEM.

  • szkolenia zaawansowane SEM/FIB (SDB):

Patterning (2 dni)
Specjalistyczne, dwudniowe szkolenie aplikacyjne z wytwarzania struktur i kontrolowanego modyfikowania powierzchni próbki poprzez rozpylanie próbki oraz nakładanie warstw metalicznych w mikroskopach FIB/SEM (SDB). Szkolenie w szerokim zakresie dyskutuje dobór parametrów wiązki jonowej i elektronowej, odpowiedni do wymaganych rozmiarów krytycznych wytwarzanych struktur. Ponadto, zwrócono uwagę na pliki i oprogramowanie umożliwiające dobór strategii skanowania wiązki jonowej. Wyraźnie zaleca się, aby uczestnicy odbyli wcześniej szkolenie podstawowe FIB/SEM.

TEM Sample Preparation (2 dni)
Specjalistyczne, dwudniowe szkolenie aplikacyjne z preparatyki próbek (lamelek) (S)TEM metodą zogniskowanej wiązki jonów galu (FIB). Szkolenie obejmuje wprowadzenie do preparatyki próbek TEM, wykonywanie lamelek, przenoszenie lamelek na siatki w mikroskopie FIB/SEM (in-situ lift-out) i ich pocienianie końcowe oraz obsługę programu automatyzującego cały proces. Szczególną uwagę zwrócono na dobór parametrów wiązki jonowej na różnych etapach przygotowania lamelki. Wyraźnie zaleca się, aby uczestnicy odbyli wcześniej szkolenie podstawowe FIB/SEM.

Uwaga!

  1. Powyższe szkolenia mogą zostać przeprowadzone również w laboratorium użytkownika (szkolenia on-site).
  2. Po dodatkowych ustaleniach, FEI może przeprowadzić również szkolenia z innego zakresu.
  3. Szkolenia w Eindhoven mają ograniczoną ilość miejsc (zwykle 5-6).
  4. Terminy szkoleń mogą ulec zmianie. Aktualne dane znajdują się zawsze na stronie internetowej FEI Academy.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco