Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

SENDIRA

Sentech

SENDIRA to elipsometr spektroskopowy w zakresie podczerwieni firmy Sentech Instruments GmbH połączony ze spektrometrem FTIR o zakresie spektralnym 25 – 1.7 µm (400 – 6000 cm-1). Komputerowo sterowany goniometr pozwala na pomiar przy zmiennym kącie podania, a opcjonalny stolik X-Y na zautomatyzowane mapowanie próbek o średnicy nawet do 300 mm. Światło doprowadzane jest z portu zewnętrznego spektrometru FTIR, a wielkość plamki jest regulowana przesłonami. Odpowiedni układ kolimujący ułatwia pozycjonowanie próbki względem toru optycznego. Intuicyjne oprogramowanie SpectraRay/4 obsługuje proces akwizycji, modelowania z wykorzystaniem dołączonej bazy danych oraz dopasowania widm. Spektrometr FTIR (do wyboru: Agilent, Bruker, Thermo lub inny) może pracować jako niezależne urządzenie, służące do rejestracji pasm absorpcyjnych związanych z przejściami oscylacyjnymi.

formularz kontaktowy

Inne elipsometry: SENresearch (spektroskopowy), SE 400adv (laserowy),SE 500adv (laserowy)

Produkty powiązane: reflektometry

FAQ

  • Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć elipsometrem SENDIRA?

    SENDIRA jest nastołowym urządzeniem przeznaczonym do pracy w zakresie bliskiej podczerwieni, od 400 cm-1 do 6,000 cm-1 (25 µm – 1.7 µm). Technika skupia się na analizie pasm absorpcyjnych w uzyskanym widmie, związanych z przejściami oscylacyjnymi. Elipsometr umożliwia:

      • wyznaczenie grubości warstw
      • wyznaczenie współczynników załamania i ekstynkcji
      • analizę składu
      • identyfikację materiałów na podłożach transparentnych
      • detekcję zanieczyszczeń
      • określenie orientacji molekuł w materiałach organicznych
      • badanie przewodnictwa
      • wyznaczenie profili koncentracji domieszek.
  • W jakich obszarach elipsometr SENDIRA znajduje swoje zastosowanie?

    Głównymi obszarami wykorzystania elipsometru SENDIRA są:

      • Ultracienkie warstwy materiałów organicznych i nieorganicznych
      • Mikroelektronika, PV : profile koncentracji nośników
      • Fizyka: urządzenia IR
      • Chemia
      • Biologia, biotechnologia
  • Czy możliwe jest podłączenie elipsometru do spektrofotometru FTIR, który jest w posiadaniu klienta?

    Tak, możliwe jest podłączenie elipsometru SENDIRA do FTIR, który jest w posiadaniu klienta.
    Wymogiem jest by FTIR posiadał port, który umożliwi sprzężenie elipsometru SENDIRA z FTIR.

  • W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    Uzyskanie finalnego wyniku wymaga od użytkownika wykonania następujących kroków: pomiaru, modelowania (wybór modelu z istniejącej bazy dla otrzymanych wyników eksperymentalnych), analizy wyników (możliwie dokładne dopasowanie parametrów krzywej eksperymentalnej do parametrów krzywej modelowej) i przygotowania raportu (na zasadzie „drag&drop)”. Na początkowym, poznawczym etapie pracy z elipsometrem, użytkownik może liczyć na wsparcie producenta.

  • Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    Cena elipsometru SENDIRA to koszt rzędu 750 tyś. PLN netto w wersji podstawowej.
    Cena urządzenia w wersji podstawowej obejmuje spektrofotometr FTIR, układ autokolimujący, komputerowo sterowany goniometr (zakres kątowy 40-90°), manualny 150 mm stolik próbek, kompensator, polaryzator, oprogramowanie SpectraRay/4, Windows 7./p>

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco