Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

SENresearch 4.0

Sentech

SENresearch to rodzina elipsometrów spektroskopowych firmy Sentech Instruments GmbH pokrywająca szeroki zakres spektralny, od 190 nm do 3500 nm. Te uniwersalne elipsometry są szeroko stosowane do badania in- i exsitu właściwości optycznych cienkich warstw i podłoży oraz wyznaczania grubości warstw. Pełny zakres spektralny jest dostępny w modelu SER 850 DUV. W stabilizowanym komputerowo układzie oświetlania zastosowano lampę deuterową (DUV) i wolframową (VIS); zakres NIR uzyskano dzięki spektrometrowi FTIR. Przełączanie między zakresami jest szybkie i wymaga tylko pojedynczego kliknięcia. Chłodzony termoelektrycznie detektor zakresu DUV-VIS zapewnia wysoki stosunek sygnał/szum nawet dla próbek o niskim współczynniku odbicia. W urządzeniach zastosowano tryb skanowania SSA, tzn. nie wymagający ruchu elementów toru optycznego w czasie akwizycji, co znacznie zmniejsza czas pomiaru. Intuicyjne oprogramowanie SpectraRay/4 obsługuje proces akwizycji, modelowania z wykorzystaniem dołączonej bazy danych oraz oblicza parametry optyczne i grubość. Możliwości elipsometrów SENresearch 4.0 można rozszerzyć przy pomocy bogatego wyposażenia opcjonalnego (m.in. kamera video, reflektometr, stolik grzewczy, kriostat).

formularz kontaktowy

Inne elipsometry: Sendira (spektroskopowy), SE 400adv (laserowy), SE 500adv (laserowy)

Produkty powiązane: reflektometry

FAQ

  • Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć elipsometrem z serii SENresearch 4.0?

    Elipsometr spektroskopowy z serii SENresearch 4.0 jest idealnym narzędziem do:

      • badania grubości
      • wyznaczania parametrów optycznych materiałów objętościowych, pojedynczych warstw izotropowych i anizotropowych oraz układów złożonych wielowarstwowych
      • wyznaczania chropowatości powierzchni oraz interfaz
      • badań materiałów z gradientem właściwości, powłok porowatych, ultra cienkich warstw, w tym warstw subnanometrycznych
      • badań efektu depolaryzacji
      • wyznaczenia 15 elementów macierzy Muellera.

    Możliwe jest wykonanie łączonych pomiarów fotometrycznych (tj. elipsometrycznych, odbiciowych, transmisyjnych).

  • Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    Badaniu elipsometrycznemu poddawane są próbki płaskorównoległe o niskim stopniu rozwinięcia powierzchni. Maksymalne wymiary próbek zależą od wymiarów stolika. Dostępne są stoliki o średnicy 6”, opcjonalnie 8” oraz 300 mm. Wysokość max. 8 mm. Producent dopuszcza możliwość dostarczenia stolika do badania próbek niestandardowych.

  • Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może być zautomatyzowany ?

    Czas pomiaru dla zakresu DUV-VIS jest na ogół krótszy niż 5 sekund, dla zakresu NIR wynosi ok. 10 sekund. Zakup opcji goniometru sterowanego komputerowo oraz stolika do mapowania próbek z automatycznym ustawieniem wysokości i pochyłu platformy, pozwala na pełne zautomatyzowanie pomiarów.

  • W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    Uzyskanie finalnego wyniku wymaga od użytkownika wykonania następujących kroków: pomiaru, modelowania (wybór modelu z istniejącej bazy dla otrzymanych wyników eksperymentalnych), analizy wyników (możliwie dokładne dopasowanie parametrów krzywej eksperymentalnej do parametrów krzywej modelowej) i przygotowania raportu (na zasadzie „drag&drop)”. Na początkowym, poznawczym etapie pracy z elipsometrem, użytkownik może liczyć na wsparcie producenta.

  • Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    Cena modelu SER 800 (240 – 1000 nm) to koszt rzędu 340 tyś. PLN netto w wersji podstawowej. Cena urządzenia w wersji podstawowej obejmuje układ autokolimujący, 5° manualny goniometr (zakres kątowy 40-90°), manualny 150 mm stolik próbek, kompensator, polaryzator, oprogramowanie SpectraRay/4, Windows 7, lampę halogenowo-deuterową. Dla modelu najwyższego z serii SENresearch 4.0, tj. SER 850 DUV (190 – 2500 nm, opcjonalnie do 3500 nm), koszt zakupu sprzętu wynosi ponad 650 tyś. PLN netto dla wersji podstawowej.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco