DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.
SenSol
SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej.
Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności grubości powłok, wykonania pomiarów rezystancji powierzchniowej, lub innych właściwości takich jak stopień zamglenia H (λ), reflektancja R (λ), transmitancja T (λ) i wielu innych.
FAQ
-
Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem SenSol?
To jakie parametry można będzie zbadać zależy od finalnie ustalonej konfiguracji urządzenia, a w głównej mierze wybranych sensorów. Dostępne są m.in. głowice do pomiarów:
– grubości powłok i lustrzanego odbicia w szerokim zakresie spektralnym
– rezystancji powierzchniowej
– stałych optycznych
– transmitancji
– zamglenia
– i wiele innych. -
Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?
W podstawowym modelu badane mogą być gotowe panele szklane o wymiarach 110 cm x 140 cm oraz 110 cm x 130 cm. Panele o innych wymiarach: do ustalenia z producentem.
Grubość tafli szkła bez i z powłok-ą/-ami w zakresie od 2 do 4 mm. -
W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?
W przypadku tego urządzenia, pomiar jest w pełni automatyczny. Zaawansowane ale łatwe w użytkowaniu oprogramowanie do mapowania właściwości tafli szkła, obsługuje proces pomiarowy oraz wykonuje obliczenia parametrów próbek z wykorzystaniem bogatej bazy z predefiniowanymi obiektami i stałymi materiałowymi.
-
Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?
Wymiary zewnętrzne ~ 250 cm x 390 cm (szer. x dł.).
