Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

TOF-SIMS nanoTOFII

Physical Electronics

NanoTOF II firmy Physical Electronics to spektrometr masowy TOF-SIMS do analizy składu pierwiastkowego, chemicznego i molekularnego obszaru przypowierzchniowego. W technice TOF-SIMS zogniskowana wiązka jonów pierwotnych bombarduje próbkę powodując jej rozpylanie. Wszystkie emitowane jony wtórne są równolegle filtrowane przez analizator czasu przelotu i zliczane przez detektor. Uzyskane widmo masowe dostarcza informacji chemicznych. Próg detekcji jonów jest na poziomie nawet poniżej ppm, a głębokość pochodzenia informacji nie przekracza 5 nm. NanoTOF II posiada czuły, potrójnie ogniskujący analizator TRIFT umożliwiający analizę składu chemicznego powierzchni o rozwiniętej topografii i teksturze oraz obszarów o dużym pochyleniu (np. przekrojów poprzecznych FIB). Analizator ten wyróżnia się na rynku szerokim kątem akceptacji i zakresem energii jonów, wysoką głębią ostrości, niskim poziomem tła i dużą rozdzielczością. Dostępne są wszystkie rodzaje dział jonowych i ciekłometalicznych, które są typowo stosowane w SIMS. Ponadto, spektrometr można doposażyć w działo C60+ i klastrowe Ar2500+ do profilowania i analizy 3D składu chemicznego warstw organicznych. Skuteczną kompensację ładunku na próbkach słaboprzewodzących zapewnia jednoczesne wykorzystanie działa elektronowego i argonowego. Spektrometr jest obsługiwany z poziomu intuicyjnego oprogramowania WinCadence, które umożliwia również obróbkę jakościową i ilościową uzyskanych danych pomiarowych.

formularz kontaktowy

Inne metody powierzchniowo czułe: XPSAES

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco