Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Spektrometry XPS

Physical Electronics

Rentgenowskie spektrometry fotoelektronów (XPS/ESCA) firmy Physical Electronics (PHI) to kompletne systemy do analizy składu chemicznego powierzchni. W technice XPS promieniowanie X oświetla próbkę i powoduje emisję fotoelektronów, które przechodzą przez analizator hemisferyczny i padają na powielacz elektronów. Ze względu na wysoką rozdzielczość energetyczną na widmie obserwowane są przesunięcia chemiczne, które umożliwiają identyfikację wiązań chemicznych. Głębokość pochodzenia informacji nie przekracza 5 nm, co świadczy o wysokiej czułości powierzchniowej. Cechą wyróżniającą spektrometry PHI jest monochromatyczne źródło Al Kα generujące wiązkę o średnicy nawet poniżej 7,5 μm, która może być skanowana po powierzchni próbki. Rozwiązanie to pozwala na uzyskiwanie widm z mikroobszarów, rejestrację obrazów SE, a przede wszystkim tworzenie powierzchniowych map składu chemicznego. Analiza składu w głąb próbki, poniżej głębokości pochodzenia informacji, odbywa się poprzez sekwencyjne rozpylanie powierzchni jonami Ar+ lub C60+ i Ar2500+, w czasie którego próbka może być obracana. Skuteczną kompensację ładunku na próbkach słaboprzewodzących zapewnia jednoczesne wykorzystanie działa elektronowego i jonowego. Intuicyjne oprogramowanie SmartSoft ułatwia konfigurację eksperymentu i rejestruje dane pomiarowe, a program MultiPak przeprowadza analizę ilościową. Spektrometry można doposażyć m. in. w lampę UV do spektroskopii UPS i skanujące działo elektronowe do wzbudzania elektronów Augera oraz integrować z systemami próżniowymi użytkownika. Dostępne są trzy modele, różniące się stopniem automatyzacji, przepustowością i dostępnością technik dodatkowych.

Modele: VersaProbe III (system integrujący wiele technik), Quantera II (zautomatyzowany system o wysokiej przepustowości), XTool (system XPS o wysokiej łatwości obsługi)

formularz kontaktowy

Inne techniki powierzchniowo czułe: AESToF-SIMS

XTool – prezentacja video:

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.