Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Teneo VS

FEI Company

Teneo Volumscope (VS) firmy FEI to mikroskop SEM z mikrotomem umożliwiający pełną i zautomatyzowaną realizację techniki Serial Block Face Imaging (SBFI). Technika SBFI polega na sukcesywnym usuwaniu materiału przy pomocy wbudowanego mikrotomu i obrazowaniu SEM odsłoniętej powierzchni próbki. W ten sposób uzyskuje się strukturę trójwymiarową badanej próbki. Sekcjonowanie preparatu przez ultramikrotom zamontowany w komorze mikroskopu jest dodatkowo uzupełnione o sondowanie optyczne poprzez zmianę energii wiązki elektronowej. Umożliwia to uzyskanie izotropowej rozdzielczości na poziomie 10 nm. Technika znajduje zastosowanie głównie w biologii komórki i tkanki. Mikrotom ma komplaktową konstrukcję i nie ogranicza możliwości układu detekcji mikroskopu SEM. Montaż i demontaż mikrotomu jest prosty i nie wymaga stosowania dodatkowych narzędzi oraz modułów. Urządzenie jest w pełni funkcjonalnym mikroskopem SEM, zoptymalizowanym do pracy przy niskich napięciach przyspieszających. Czuły układ detektorów wewnątrzkolumnowych zapewnia dostrajanie kontrastu oraz wysoki stosunek sygnał/szum.

formularz kontaktowy

Teneo VS – prezentacja video

Inne mikroskopy SEM: ApreoVerios XHRQuantaCOXEM (nastołowy)

Produkty powiązane: mikroanaliza EDSWDS EBSD, preparatyka- trymernapylarkipolerka jonowa i suszarkaakcesoria i materiały dla SEMplatformy antywibracyjnesystemy do kompensacji EMIAmiraAES

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco