DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

Hysitron TriboScope firmy Bruker został zaprojektowany w celu rozszerzenia możliwości mikroskopów AFM o pomiary nanotwardości i pomiary tribologiczne. Głowica TriboScope może zostać w pełni zintegorwana z mikroskopami sił atomowych firmy Bruker: Dimension Icon, Dimension Edge oraz MultiMode 8. Dzięki zastosowaniu sztywnego wgłębnika likwiduje się problemy związane z użyciem elastycznych sond, stosowanych typowo przy nanoindentacji w AFM. TriboScope umożliwia pomiary modułu Younga, twardości instrumentalnej, pełzania, relaksacji naprężeń, odporności na pękanie oraz właściwości lepkosprężystych. Obrazowanie insitu SPM pozwala na obserwację zachowania materiału przed i po pomiarze. Ponadto urządzenie umożliwia badanie objętości, szybkości oraz głębokości zużycia materiału. Dodatkową opcją jest dynamiczna i ciągła analiza właściwości mechanicznych (tryb nanoDMA III). TriboScope umożliwia charakterystykę właściwości mechanicznych oraz tribologicznych w nanoskali szerokiego zakresu materiałów od miękkich polimerów do ultra cienkich powłok diamentowych.
Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.
TriboScope – webinar: