Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Verios XHR

FEI Company

Verios™ to ultrawysokorozdzielczy mikroskop SEM drugiej generacji pracujący w warunkach wysokiej próżni, dedykowany do zaawansowanych badań materiałowych oraz metrologii na poziomie wymaganym przez współczesny przemysł elektroniczny. Zastosowanie działa polowego Elstar™ FEG, monochromatora wiązki, układu hamowania wiązki, soczewek o stałej mocy oraz szerokiej gamy specjalistycznych detektorów (TLD, ICD, MD, DBS) umożliwia uzyskiwanie wysokokontrastowych obrazów powierzchni z rozdzielczością na poziomie 0,7 nm w szerokim zakresie energii od 1 do 30 keV. Ponadto, w oprogramowaniu  zaimplementowano specjalne algorytmy skanowania redukujące ładowanie próbek o słabym przewodnictwie elektrycznym. Mikroskop można doposażyć w wielosektorowy wysuwany detektor STEM-III elektronów przechodzących.

formularz kontaktowy

Inne mikroskopy SEM: Teneo VSApreoQuanta, COXEM (nastołowy)

Produkty powiązane: mikroanaliza EDSWDS i EBSD, preparatyka – trymernapylarkipolerka jonowa i suszarkaakcesoria i materiały dla SEMplatformy antywibracyjnesystemy do kompensacji EMIAES

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco