Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Versa 3D

ThermoFisher Scientific

Versa 3D to zaawansowany technologicznie system typu DualBeam™ firmy FEI, zoptymalizowany do obrazowania niskoenergetycznego, badań 3D, patterningu oraz badań in-situ. Kolumna elektronowa z działem FEG umożliwia pracę systemu jako kompletny mikroskop SEM, działający w trybie wysokopróżniowym. Opcjonalny monochromator oraz układ opóźniania wiązki elektronowej znacznie poprawiają rozdzielczość w zakresie niskich energii. Opcjonalne tryby niskopróżniowy i środowiskowy pozwalają na bezpośrednie badania próbek nieprzewodzących, uwodnionych i odgazowujących oraz przeprowadzanie eksperymentów in-situ. Kolumna jonowa emituje zbieżną wiązkę jonów galu (FIB), która może być wykorzystana do modyfikacji powierzchni w skali nanometrycznej, preparatyki próbek TEM oraz obrazowania i mikroanalizy 3D. Duże zakresy prądów emisji i energii jonów Ga+ umożliwiają szybkie wstępne rozpylanie materiału oraz dokładną, nieagresywną obróbkę końcową.

formularz kontaktowy

Inne mikroskopy SEM/FIB: SciosHelios NanoLab

Produkty powiązane: detektory EDSWDS i EBSD, preparatyka – trymernapylarki, polerka jonowa i suszarka,  akcesoria i materiały dla SDBplatformy antywibracyjnesystemy do kompensacji EMIAmiraAvizoAuto Slice & View

Versa 3D – prezentacja video:

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco