Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Wibrometry laserowe

Sios

Wibrometry laserowe firmy SIOS GmbH to urządzenia do precyzyjnego, bezkontaktowego pomiaru przesunięcia, przyspieszenia i prędkości ciał  drgających z częstotliwościami od 0 do 5 MHz. Pomiar wykorzytsuje interferencję światła – wiązka laserowa po odbiciu od drgającego obiektu jest przesunięta w fazie względem wiązki referencyjnej i interferuje z nią. Chwilowa różnica w fazie zależy od parametrów ruchu drgającego, które można wyznaczyć na podstawie analizy uzyskanych prążków interferencyjnych. Wibrometry te wykorzystują sprawdzone, miniaturowe i światłowodowe interferometry. Kompletny system pomiarowy składa się z modułowej jednostki zasilająco-sterującej zawierającej stabilizowany laser He-Ne, kompaktowej głowicy pomiarowej oraz różnych modułów przyłączeniowych. Te łatwe w obsłudze i justowaniu urządzenia mierzą przesunięcia w zakresie do ±20 mm z dokładnością 0,005 nm. Oprogramowanie INFAS Vibro efektywnie przetwarza dane pomiarowe, koryguje je, przeprowadza analizę FFT i wyświetla wyniki. Główne zastosowania to precyzyjne pomiary wielkości charakteryzujących ruch drgający, wyznaczanie modów drgań płyt oraz częstotliwości rezonansowych obiektów mikro- i makroskopowych. Dostępne są dwa modele, różniące się głównie zakresem odległości roboczej. Ponadto, dostępny jest analizator wibracji w skali nano (NA), w którym wibrometr sprzężony jest z obiektywami mikroskopowymi. Jest on przeznaczony do analizy przemieszczeń mikrostruktur, układów MEMS i mikrobelek (cantilever). Pomiar obiektów odbywa się na stoliku o zakresie ruchu 50×50 mm.

Modele: LSV 120 NG (odległość robocza 30-70 mm, 240 mm lub 480 mm), LSV 2500 NG (odległość robocza zmienna w zakresie 240-2500 mm), NA (nanoanalizotor)

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.