Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Publikacja z zastosowania PeakForce Tapping

10-05-2014

Miło nam poinformować, że w ostatnim dniach został opublikowany artykuł:

E. Papis-Polakowska, B. Radkowski, S. Lesko i J. Kaniewski, PeakForce Tapping Technique for Characterization of Thin Organic Passivating Layers, Acta Physica Polonica A 125 (2014) 1056-1060

Publikacja powstała przy współudziale firmy Labsoft (B. Radkowski) oraz Bruker (S. Lesko).

W artykule przedstawiono zastosowanie trybu PeakForce Tapping w mikroskopach ze skanującą sondą do badania morfologii i przewodności elektrycznej delikatnych cienkich warstw organicznych na GaAs i GaSb. Warstwy te zostały wytworzone w wyniku kąpieli podłoży w alkoholowym roztworze tiolu HDT. Oprócz wyników eksperymentalnych, w sposób zwięzły omówiono również podstawy PeakForce Tapping, a zwłaszcza PF TUNA zarówno w trybie obrazowania, jak i spektroskopii.

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco