SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n (…)

SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej. Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności (…)

SENresearch to rodzina elipsometrów spektroskopowych firmy Sentech Instruments GmbH pokrywająca szeroki zakres spektralny, od 190 nm do 3500 nm. Te uniwersalne elipsometry są szeroko stosowane do badania in- i exsitu właściwości optycznych cienkich warstw i podłoży oraz wyznaczania grubości warstw. Pełny zakres spektralny jest dostępny w modelu SER 850 DUV. W stabilizowanym komputerowo układzie oświetlania zastosowano lampę deuterową (DUV) i wolframową (…)