Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

elipsometry

SE 500adv

SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n (…)

Więcej

SenSol

SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej. Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności (…)

Więcej

SENresearch 4.0

SENresearch to rodzina elipsometrów spektroskopowych firmy Sentech Instruments GmbH pokrywająca szeroki zakres spektralny, od 190 nm do 3500 nm. Te uniwersalne elipsometry są szeroko stosowane do badania in- i exsitu właściwości optycznych cienkich warstw i podłoży oraz wyznaczania grubości warstw. Pełny zakres spektralny jest dostępny w modelu SER 850 DUV. W stabilizowanym komputerowo układzie oświetlania zastosowano lampę deuterową (DUV) i wolframową (…)

Więcej

SE 400adv

SE 400adv to elipsometr laserowy z długością fali 632,8 nm (He-Ne) firmy Sentech Instruments GmbH. To kompaktowe, łatwe w obsłudze urządzenie umożliwia precyzyjne wyznaczanie parametrów optycznych cienkich warstw (prostych i złożonych) i podłoży oraz grubości warstw. Ręczny goniometr pozwala na pomiary przy różnych kątach podania wiązki. Pozycjonowanie próbki odbywa się (…)

Więcej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco