Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

elipsometry

SE 500adv

SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n (…)

Więcej

SenSol

SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej. Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności (…)

Więcej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco