Reflektometry spektroskopowe RM 1000 i RM 2000 firmy Sentech Instruments GmbH to urządzenia do pomiaru widma odbicia w zakresie odpowiednio VIS i UV-VIS oraz charakteryzacji cienkich warstw i podłoży na podstawie jego analizy. Główne zastosowanie to szybki, bezkontaktowy pomiar grubości warstw i układów warstw przeźroczystych lub słabo pochłaniających na podłożach (…)

FTPadv to urządzenie firmy Sentech Instruments GmbH do bezkontaktowego, optycznego pomiaru grubości warstw i układów warstw przeźroczystych lub słabo pochłaniających na podłożach przeźroczystych lub pochłaniających. To proste i łatwe w obsłudze urządzenie pozwala na szybki pomiar w zakresie grubości od 30 nm do 25 µm z dokładnością 1 nm. Grubość (…)