Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Kompensacja zakłóceń

Kompensacja pola EM

SC20: System SC20 firmy Spicer Consulting służy do kompensacji stałego i zmiennego pola magnetycznego w pomieszczeniach, w których instaluje się urządzenia czułe na zakłócenia magnetyczne. Główne miejsca instalacji to laboratoria mikroskopii elektronowej (SEM i TEM) i jonowej (FIB), zwłaszcza wykorzystujące wysokorozdzielczy tryb STEM i techniki filtrowania energii (EFTEM, EELS). Zewnętrzne pole elektromagnetyczne oddziałuje na wiązkę powodując jej (…)

Więcej

Izolacja wibracji

PLATFORMY AVI: AVI to rodzina platform antywibracyjnych firmy Table Stable, reprezentowanej w Europie przez HWL Scientific Instruments GmbH, które izolują drgania mechaniczne w sposób aktywny. Wibracje mechaniczne o niskich częstotliwościach generowane przez m.in. budynki, urządzenia mechaniczne, środki transportu drogowego i kołowego, układy klimatyzacji i wentylacji mogą uniemożliwić osiągnięcie przez aparaturę badawczą specyfikowanych parametrów pracy. Główne zalety aktywnej (…)

Więcej

Pomiary

Firma Labsoft wykonuje pomiary drgań mechanicznych i akustycznych oraz zmiennego pola magnetycznego w miejscu bieżącej lub przyszłej lokalizacji czułych urządzeń badawczych. Czynniki środowiskowe mogą skutecznie pogorszyć parametry pracy urządzeń, zwłaszcza tych, które powinny umożliwiać najwyższe rozdzielczości przestrzenne (mikroskopy S/TEM i AFM) i energetyczne (filtry obrazowe GIF). Przeprowadzenie pomiarów pozwala na porównanie wyników z wartościami wymaganymi przez producenta, rozpoznanie (…)

Więcej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.