Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Metrologia precyzyjna

Platforma NMM-1

NMM-1 to platforma do pozycjonowania i wymiarowania obiektów w trzech osiach w zakresie 25x25x5 mm z dużą dokładnością na poziomie 0,1 nm. Urządzenie wykorzystuje trzy miniaturowe interferometry laserowe z płaskim zwierciadłem służące do pomiaru położenia wzdłuż każdej osi. Interferometry monitorują położenie ruchomego stolika zwierciadlanego, na którym leży pozycjonowany/mierzony obiekt. Dodatkowe dwa czujniki pozwalają na pomiar i korekcję odchyleń kątowych stolika. Światło z trzech stabilizowanych (…)

Więcej

Interferometry laserowe

Miniaturowe interferometry firmy SIOS GmbH są przeznaczone do systemów metrologicznych, urządzeń i instrumentów użytkownika. Służą one do bezkontaktowych i precyzyjnych pomiarów odległości wzdłuż jednej lub wielu osi z rozdzielczością do 0,005 nm oraz kątów z rozdzielczością do 0,001 arcsec. Zasada pomiaru wykorzystuje zjawisko interferencji – wiązka laserowa odbita od poruszającego się obiektu interferuje z wiązką referencyjną, a powstały obraz interferencyjny jest przeliczany w optoelektronicznym układzie (…)

Więcej

Lasery He-Ne

SL to wysokiej klasy stabilizowane, kompaktowe lasery He-Ne firmy SIOS GmbH. Dobowa zmienność częstotliwości na poziomie ±5∙10-9 oraz amplitudy poniżej ±0,2% pozwala na ich zastosowanie do precyzyjnych pomiarów interferometrycznych. Lasery te mają wyjątkowo krótki czas rozgrzewania do osiągnięcia stabilnej pracy poniżej 10 minut i niskie zużycie mocy poniżej 20 W. Generowana wiązka światła o długości 632,8 nm i mocy do ok. 3 mW jest (…)

Więcej

Wibrometry laserowe

Wibrometry laserowe firmy SIOS GmbH to urządzenia do precyzyjnego, bezkontaktowego pomiaru przesunięcia, przyspieszenia i prędkości ciał  drgających z częstotliwościami od 0 do 5 MHz. Pomiar wykorzytsuje interferencję światła – wiązka laserowa po odbiciu od drgającego obiektu jest przesunięta w fazie względem wiązki referencyjnej i interferuje z nią. Chwilowa różnica w fazie zależy od parametrów ruchu drgającego, które można wyznaczyć na podstawie analizy uzyskanych prążków (…)

Więcej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.