DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

TopoStitch™ firmy Image Metrology to wydajny program do prezcyzyjnego zszywania wielu obrazów w duży obraz wynikowy. Obrazy składowe (3D i 2D) mogą pochodzić z mikroskopów ze skanującą sondą, mikroskopów świetlnych, profilometrów, interferometrów oraz innych instrumentów obrazujących. Jeśli pliki z tymi obrazami zawierają informacje o współrzędnych stolika, to proces pozycjonowania i zszywania odbywa się automatycznie. W przeciwnym wypadku można skorzystać z prostego (…)
SPIP firmy Image Metrology to zaawansowany pakiet oprogramowania do przetwarzania i precyzyjnej analizy obrazów mikroskopowych. Pakiet obsługuje obrazy z mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, AFM, STM, SNOM, etc.), mikroskopów elektronowych (SEM, TEM), mikroskopów świetlnych (LM) oraz profilometrów. Podstawowe funkcje pakietu to filtrowanie szumów, wyostrzanie, wyodrębnianie, kalibracja, analiza fourierowska, detekcja oraz analiza dystrybucji cząstek, ziaren i porów, (…)