SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n (…)

SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej. Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności (…)

Reflektometry spektroskopowe RM 1000 i RM 2000 firmy Sentech Instruments GmbH to urządzenia do pomiaru widma odbicia w zakresie odpowiednio VIS i UV-VIS oraz charakteryzacji cienkich warstw i podłoży na podstawie jego analizy. Główne zastosowanie to szybki, bezkontaktowy pomiar grubości warstw i układów warstw przeźroczystych lub słabo pochłaniających na podłożach (…)