Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Profilometry

SPIP

SPIP firmy Image Metrology to zaawansowany pakiet oprogramowania do przetwarzania i precyzyjnej analizy obrazów mikroskopowych. Pakiet obsługuje obrazy z mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, AFM, STM, SNOM, etc.), mikroskopów elektronowych (SEM, TEM), mikroskopów świetlnych (LM) oraz profilometrów. Podstawowe funkcje pakietu to filtrowanie szumów, wyostrzanie, wyodrębnianie, kalibracja, analiza fourierowska, detekcja oraz analiza dystrybucji cząstek, ziaren i porów, (…)

Więcej

Profilometry optyczne

W naszej ofercie znajdują się profilometry optyczne firmy Bruker. Profilometria optyczna (interferometria światła widzialnego) to szybka i bezkontaktowa metoda pomiaru geometrii i cech topograficznych powierzchni. W profilometrze wiązka światła jest dzielona na dwie ścieżki – pomiarową i referencyjną. Wiązka referencyjna przebywa określoną i znaną drogę optyczną. Natomiast wiązka pomiarowa pada na próbkę, odbija się od niej i interferuje z wiązką referencyjną. W prążkach (…)

Więcej

Profilometry stykowe

W naszej ofercie znajdują się profilometry stykowe firmy Bruker. Profilometria stykowa (kontaktowa) wykorzystuje sondę, która przesuwana jest po powierzchni próbki. Zmiany wychylenia ramienia sondy odzwierciedlają zmiany wysokości próbki, z których uzyskuje się geometrię powierzchni. Zalety metody to bardzo wysoka czułość i duża rozdzielczość w osi pionowej. Główne zastosowania to topografia powierzchni, grubość warstw (…)

Więcej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.