PHI 710 firmy Physical Electronics to wysokorozdzielczy skaningowy spektrometr elektronów Augera (AES) do analizy składu pierwiastkowego i chemicznego powierzchni materiałów litych oraz cienkich warstw i interfaz. W technice AES elektrony wiązki pierwotnej bombardują próbkę i powodują emisję elektronów Augera, które są separowane po energii w cylindrycznym analizatorze zwierciadlanym (CMA) i padają na powielacz elektronów. Analiza widma pozwala uzyskać informacje chemiczne z obszarów o grubości do 1 nm. (…)

NanoTOF II firmy Physical Electronics to spektrometr masowy TOF-SIMS do analizy składu pierwiastkowego, chemicznego i molekularnego obszaru przypowierzchniowego. W technice TOF-SIMS zogniskowana wiązka jonów pierwotnych bombarduje próbkę powodując jej rozpylanie. Wszystkie emitowane jony wtórne są równolegle filtrowane przez analizator czasu przelotu i zliczane przez detektor. Uzyskane widmo masowe dostarcza informacji chemicznych. Próg detekcji jonów jest na poziomie nawet poniżej ppm, (…)

Rentgenowskie spektrometry fotoelektronów (XPS/ESCA) firmy Physical Electronics (PHI) to kompletne systemy do analizy składu chemicznego powierzchni. W technice XPS promieniowanie X oświetla próbkę i powoduje emisję fotoelektronów, które przechodzą przez analizator hemisferyczny i padają na powielacz elektronów. Ze względu na wysoką rozdzielczość energetyczną na widmie obserwowane są przesunięcia chemiczne, które umożliwiają identyfikację wiązań chemicznych. Głębokość pochodzenia informacji nie przekracza 5 nm, co świadczy o wysokiej czułości (…)