DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

Firma Labsoft prowadzi szkolenia obsługowe, operatorskie oraz aplikacyjne z obsługi mikroskopów 3D (profilometrów optycznych) Contour i profilometrów stykowych Dektak. Celem szkoleń jest wprowadzanie zarówno nowych osób w możliwości badawcze, jak i doskonalenie umiejętności w zakresie obsługi urządzenia przez obecnych operatorów. Oferujemy również wsparcie aplikacyjne przy pomiarach próbek użytkownika oraz w zakresie doboru odpowiednich trybów i parametrów pracy. Ponadto, doradzamy przy pomiarach próbek wymagających, (…)
Firma Labsoft prowadzi szkolenia obsługowe, operatorskie oraz aplikacyjne z zakresu mikroskopii SPM (Scanning Probe Microscopy, mikroskopia ze skanującą sondą), w tym mikroskopii sił atomowych (AFM) oraz skaningowej mikroskopii tunelowej (STM). Nasze szkolenia obejmują wszystkie tryby pracy dostępne w mikroskopach SPM firmy Bruker – obrazowanie topografii powierzchni oraz mapowanie właściwości mechanicznych, elektrycznych i magnetycznych. Służymy wsparciem nie tylko w obsłudze, ale również analizie danych (…)
Edax Inc. organizuje szkolenia z zakresu teorii i obsługi technik analizy składu chemicznego (XRF, EDS i WDS) oraz fazowego (EBSD), dostępnych w elektronowych mikroskopach skaningowych i częściowo transmisyjnych. Szkolenia odbywają się w Weiterstadt koło Darmstadt (Niemcy) i są prowadzone w języku angielskim lub niemieckim. Zakup tych szkoleń dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft. Informacje oraz harmonogram szkoleń firmy EDAX można (…)
Firma Labsoft przeprowadza szkolenia obsługowe, operatorskie i aplikacyjne z zakresu skaningowej (SEM) i skaningowej jonowej (FIB) mikroskopii elektronowej. Poziom szkoleń zależy od zagadnienia, ale w ogólności może być podstawowy, rozszerzony i/lub specjalistyczny. Głównym celem jest przygotowanie użytkownika do pełnego wykorzystania możliwości badawczych mikroskopów SEM i SDB oraz zwrócenie uwagi na dobór parametrów wiązki oraz trybu pracy na potrzeby prowadzonych badań. W chwili (…)