Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Właściwości warstw

SE 500adv

SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n (…)

Więcej

SenSol

SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej. Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności (…)

Więcej

UMT TriboLab

UMT TriboLab firmy Bruker to uniwersalna platforma do przeprowadzania prób tribologicznych przy różnych parametrach i w różnych warunkach środowiskowych. Dzięki modularnej budowie platformę tę można wymiennie konfigurować jako tribometr do badań właściwości tribologicznych układu dwóch kontaktujących się materiałów, scratch tester do badania właściwości mechanicznych warstw na podstawie testu zarysowania oraz twardościomierz do wyznaczania twardości materiałów. Szeroki zakres dostępnych (…)

Więcej

reflektometry RM

Reflektometry spektroskopowe RM 1000 i RM 2000 firmy Sentech Instruments GmbH to urządzenia do pomiaru widma odbicia w zakresie odpowiednio VIS i UV-VIS oraz charakteryzacji cienkich warstw i podłoży na podstawie jego analizy. Główne zastosowanie to szybki, bezkontaktowy pomiar grubości warstw i układów warstw przeźroczystych lub słabo pochłaniających na podłożach (…)

Więcej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco