DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

SE 500adv to poszerzenie możliwości elipsometru laserowego SE 400adv o pomiar reflektometryczny. Dzięki temu połączeniu jednoznaczne wyznaczenie grubości warstwy transparentnej nie stanowi najmniejszego problemu. Co więcej możliwe jest mierzenie powłok o grubościach nawet do 20 μm. Pomiary następują bezpośrednio po sobie i na ich podstawie są wyliczane wielkości k, n (…)
SenSol jest wszechstronnym urządzeniem zaprojektowanym do badania m.in. cienkich powłok na szkle. Jedną z aplikacji jest kontrola jakości cienkowarstwowych ogniw słonecznych, zarówno w laboratoriach PV R&D, działach kontroli jakości, jak i bezpośrednio na linii produkcyjnej. Panele pokryte TCO, o pełnych wymiarach, mogą zostać poddane szybkiemu mapowaniu w celu kontroli jednorodności (…)
UMT TriboLab firmy Bruker to uniwersalna platforma do przeprowadzania prób tribologicznych przy różnych parametrach i w różnych warunkach środowiskowych. Dzięki modularnej budowie platformę tę można wymiennie konfigurować jako tribometr do badań właściwości tribologicznych układu dwóch kontaktujących się materiałów, scratch tester do badania właściwości mechanicznych warstw na podstawie testu zarysowania oraz twardościomierz do wyznaczania twardości materiałów. Szeroki zakres dostępnych (…)