Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Szkolenia FEI 2014

07-01-2014

Firma FEI podała harmonogram szkoleń podstawowych i aplikacyjnych na rok 2014 dla użytkowników mikroskopów transmisyjnych, skaningowych elektronowych i skaningowych jonowo-elektronowych. Harmonogram wraz z pełnym opisem szkoleń i możliwością rezerwacji poszczególnych terminów znajduje na stronie FEI Academy, dostępnej po zalogowaniu się do serwisu FEI. Zakup tych szkoleń dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft.

Dla ułatwienia poniżej, w formie skondensowanej, podajemy daty wszystkich szkoleń.
Uwaga! Szkolenia mają ograniczoną ilość miejsc (zwykle 6-8). Terminy szkoleń mogą ulec zmianie. Aktualne dane znajdują się zawsze na stronie internetowej FEI Academy.

Podstawowe

Zaawansowane

TEM Tecnai Basic Course
03-07 III 2014
16-20 VI 2014
08-12 IX 2014
03-07 XI 2014
Tecnai Advanced Materials Science
10-14 III 2014
23-27 VI 2014
15-19 IX 2014
10-14 XI 2014
Titan Advanced Materials Science
24-28 III 2014
16-20 VI 2014
03-07 XI 2014
Electron Tomography
07-11 IV 2014
13-17 X  2014
Tecnai Advanced Life Science Cryo
31 III – 04 IV 2014
06-10 X  2014
SEM Quanta FEG/Inspect FEG
10-12 III 2014
16-18 VI 2014
08-10 IX 2014
03-05 XI 2014
Quanta/Inspect
10-12 III 2014
16-18 VI 2014
08-10 IX 2014
03-05 XI 2014
Nova NanoSEM
10-12 III 2014
16-18 VI 2014
08-10 IX 2014
03-05 XI 2014
Verios/Magellan
03-05 XI 2014
ESEM (Peltier Cooling Stage)
13-14 III 2014
19-20 VI 2014
11-12 IX 2014
06-07 XI 2014
Heating Stage
13-14 III 2014
11-12 IX 2014
EDS (EDAX Tillburg)
13-14 III 2014
19-20 VI 2014
11-12 IX 2014
06-07 XI 2014
DualBeam Quanta 3D (FEG)/Versa 3D
17-19 III 2014
23-25 VI 2014
15-17 IX 2014
10-12 XI 2014
Helios NanoLab/Nova NanoLab
17-19 III 2014
23-25 VI 2014
15-17 IX 2014
10-12 XI 2014
Scios
15-17 IX 2014
10-12 XI 2014
Patterning
20-21 III 2014
18-19 IX 2014
TEM Sample Preparation
20-21 III 2014
26-27 VI 2014
18-19 IX 2014
13-14 XI 2014
  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco