Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Szkolenie własne w SENTECH Instruments

04-05-2015

W dniach 20-24 IV 2015 nasz zespół handlowy odbył intensywne szkolenie specjalistyczne w Sentech Instruments GmbH w Berlinie. Szkolenie obejmowało szczegóły techniczne i użytkowe dotychczasowych i nowych produktów tej firmy oraz ich zastosowania w technologii cienkich warstw i struktur półprzewodnikowych.

Firma SENTECH Instruments GmbH to znany producent:

Opiekunem produktów firmy Sentech w Labsofcie jest dr inż. Marta Izydorzak-Woźniak.

Kategorie

Archiwa

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD, SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

MIKROSKOPIASIŁ ATOMOWYCH I PROFILOMETRIA

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA TEM, STEM, SEM, DB

SERWIS I WSPARCIE

WYTWARZANIE WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI