Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

TEM/SEM/EDS FEI/EDAX User Meeting

14-09-2013

W dniach 16-17 września 2013 w Instytucie Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN w Krakowie odbędzie się seminarium Materials Science TEM/SEM/EDS FEI/EDAX User Meeting. Seminarium poświęcone jest technikom mikroskopii elektronowej skaningowej (SEM) i transmisyjnej (TEM), ze szczególnym uwzględnieniem metod analizy składu chemicznego i fazowego. Wykłady będą prowadzone przez specjalistów aplikacyjnych firmy FEI, EDAX i Labsoft oraz przez pracowników Instytutu.

Pełny program seminarium – IMIM_TEM SEM EDS UM Programme.

Link do informacji o seminarium na stronach Instytutu.

Otwarcie seminarium – prof. Paweł Zięba (IMIM) i Krzysztof Herman (Labsoft)
Wykład specjalistów aplikacyjnych firmy EDAX
Wykład specjalisty aplikacyjnego firmy Labsoft
Uczestnicy seminarium
  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco