Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Warsztaty AFM i pokaz mikroskopu Dimension FastScan

12-02-2014

Firma Labsoft zaprasza na warsztaty poświęcone najnowszym rozwiązaniom i trendom w mikroskopii sił atomowych. W czasie warsztatów odbędzie się demonstracja mikroskopu sił atomowych Dimension FastScan firmy Bruker Nano Surfaces, znanego producenta mikroskopów AFM/STM oraz profilometrów optycznych i stykowych.

Warsztaty odbędą się w dniach 27-28 II 2014 w sali konferencyjnej Wrocławskiego Centrum Badań EIT+ przy ul. Stabłowickiej 147, 54-066 Wrocław.

Uczestnictwo w warsztatach jest bezpłatne, a w jego trakcie zostanie zapewnione wyżywienie. Wszystkich zainteresowanych prosimy o wypełnienie formularza_zgłoszeniowego i przesłanie go do dnia 17 II 2014 do Marty Serafin, ms(at)labsoft.pl.

Pierwszego dnia zaplanowano prezentacje naukowe użytkowników systemów AFM oraz prezentację multimedialną mikroskopu Dimension FastScan przez specjalistę aplikacyjnego firmy Bruker – dr Alexandra Dulebo. Natomiast dnia drugiego odbędą się sesje praktyczne, podczas których dr Dulebo będzie mógł przeprowadzić badania Państwa próbek. Bardzo prosimy, aby zainteresowani takimi pomiarami przesłali próbki do siedziby firmy Labsoft do dnia 21 II 2014 wraz z dokładnym opisem.

Szczegółowy program zostanie opublikowany i przesłany do zarejestrowanych uczestników w przeciągu tygodnia.

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco