Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Warsztaty „Nanomaterials Characterization”

09-03-2016

W dniach 14-16 III 2016 w Uniwersytecie w Białymstoku odbędą się warsztaty:

Nanomaterials Characterization – Nanocharacterization

które są organizowane są w ramach akcji COST Nanospectroscopy (MP1302). Warsztaty poświęcone są analizie materiałów w nanoobszarach przy użyciu mikroskopii elektronowej, spektroskopii FTIR, spektroskopii Ramana oraz technik magnetooptycznych. Oprócz wykładów przeprowadzone zostaną również ćwiczenia praktyczne.

W trakcie warsztatów, w dniu 14 III, przedstawiciele firmy Labsoft poprowadzą wykład i ćwiczenia poświęcone transmisyjnej mikroskopii elektronowej oraz preparatyce próbek.

Dokładna lokalizacja miejsca przeprowadzenia warsztatów to:
Uniwersytet w Białymstoku
ul. Ciołkowskiego 1K i 1L
15-245 Białystok

Więcej informacji oraz formularz rejestracji można znaleźć na stronie:
http://www.cost-nanospectroscopy.eu/nano-characterization.html

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco