Serdecznie zapraszamy na warsztaty z elipsometrii, które odbędą się w dniach 11-12 maja 2016 roku w Warszawie. Organizatorem warsztatów są firmy Labsoft oraz SENTECH Instruments GmbH.

W trakcie warsztatów, oprócz wykładów poświęconych zagadnieniom aplikacyjnym, zostanie zademonstrowany nowy elipsometr firmy SENTECH – SENresearch 4.0.

Warsztaty obejmują następujące prezentacje, które zostaną przedstawione przez specjalistów aplikacyjnych firmy SENTECH:

• Metrical, electrical and chemical information by FTIR ellipsometry up to 3500 nm wavelength;
• Analysis of anisotropic samples by full Mueller matrix measurement;
• Analysis of 2D periodic structures by scatterometry;
• Complex sample analysis by variable angle, multi-experiment, and combined photometric ellipsometric measurements;
• New SENTECH spectroscopic ellipsometer SENresearch 4.0 – widest UV-VIS-NIR spectral range, large number of field upgradable accessories;
• SpectraRay 4.0 – full featured software package for advanced material analysis.

Warsztaty odbędą się w siedzibie firmy Labsoft przy ul. Puławskiej 469 w Warszawie. Ze względu na ograniczoną liczbę miejsc, konieczna jest wcześniejsza rejestracja. Wszelkie zapytania, w tym zgłoszenia na warsztaty, prosimy kierować do dr inż. Marty Izydorzak-Woźniak.

Informacje o elipsometrze SENresearch 4.0 można znaleźć na stronie firmy SENTECH oraz na stronie firmy Labsoft.

zaproszenie na warsztaty

Fotorelacja z warsztatów: