Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Warsztaty z elipsometrii (11-12 maja)

25-04-2016

Serdecznie zapraszamy na warsztaty z elipsometrii, które odbędą się w dniach 11-12 maja 2016 roku w Warszawie. Organizatorem warsztatów są firmy Labsoft oraz SENTECH Instruments GmbH.

W trakcie warsztatów, oprócz wykładów poświęconych zagadnieniom aplikacyjnym, zostanie zademonstrowany nowy elipsometr firmy SENTECH – SENresearch 4.0.

Warsztaty obejmują następujące prezentacje, które zostaną przedstawione przez specjalistów aplikacyjnych firmy SENTECH:

  • Metrical, electrical and chemical information by FTIR ellipsometry up to 3500 nm wavelength;
  • Analysis of anisotropic samples by full Mueller matrix measurement;
  • Analysis of 2D periodic structures by scatterometry;
  • Complex sample analysis by variable angle, multi-experiment, and combined photometric ellipsometric measurements;
  • New SENTECH spectroscopic ellipsometer SENresearch 4.0 – widest UV-VIS-NIR spectral range, large number of field upgradable accessories;
  • SpectraRay 4.0 – full featured software package for advanced material analysis.

Warsztaty odbędą się w siedzibie firmy Labsoft przy ul. Puławskiej 469 w Warszawie. Ze względu na ograniczoną liczbę miejsc, konieczna jest wcześniejsza rejestracja. Wszelkie zapytania, w tym zgłoszenia na warsztaty, prosimy kierować do dr inż. Marty Izydorzak-Woźniak.

Informacje o elipsometrze SENresearch 4.0 można znaleźć na stronie firmy SENTECH oraz na stronie firmy Labsoft.

zaproszenie na warsztaty

Fotorelacja z warsztatów:Photorelation_ Workshop_ May 2016 -final

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco