Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Warsztaty z preparatyki próbek do EM

01-03-2014

Leica Microsystems oraz Labsoft zapraszają na warsztaty „Zaawansowane metody preparatyki dla mikroskopii elektronowej” poświęcone przygotowaniu materiałów typowych dla inżynierii materiałowej do badań metodami mikroskopii elektronowej.

Warsztaty obejmują wykłady oraz sesje praktyczne i zostaną poprowadzone przez specjalistów aplikacyjnych firmy Leica – Roberta Rannera oraz Markusa Wolfa. W trakcie ich trwania będzie można zapoznać się z urządzeniami do preparatyki firmy Leica: EM TIC 3X , EM RES 102 oraz EM TXP.

Warsztaty odbędą się w dniu 6 III 2014 na terenie Wrocławskiego Centrum Badań EIT+ przy ul. Stabłowickiej 147, 54-066 Wrocław.

Uczestnictwo w warsztatach jest bezpłatne. Wszystkich zainteresowanych prosimy o kontakt z Maciejem Wocialel [mw(at)labsoft.pl].

Program warsztatów

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco