Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Webinarium działa jonowe w XPS

07-01-2020

Szanowni Państwo,

W dniu 16 stycznia (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.

Ion gun Options and Capabilities on Physical Electronics XPS Systems

Udział w webinarium jest bezpłatny. Link rejestracyjny znajduje się tutaj.

Prezentacja będzie poświęcona wgłębnemu profilowaniu jonowemu w technice XPS. Omówione zostaną trzy działa jonowe: tradycyjne (monoatomowe) argonowe, klastrowe C60 i klastrowe Ar2500 oraz zakresy ich stosowalności. Tradycyjne działo Ar powoduje dekompozycję materiałów organicznych i złożonych materiałów nieorganicznych w trakcie ich rozpylania. Problemów tych można uniknąć stosując wiązki klastrowe.

Wspomniane działa są dostępne we flagowej linii spektrometrów XPS VersaProbe III i ToF-SIMS nano-TOF II firmy PHI – czołowego dostawcy spektrometrów fotoemisyjnych, AES i ToF-SIMS.

Wszystkie prezentacjewebinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje:

XPS/HAXPES:

ToF-SIMS:

AES:

Techniki komplementarne:

Właściwości elektronowe:

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.