Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Webinarium LEIPS & UPS

02-10-2019

W dniu 3 października (czwartek) 2019 o godz. 17.00 zapraszamy do wysłuchania webinarium firmy Physical Electronics pt.

Electronic Band Structure Characterization using LEIPS & UPS on MultiTechnique XPS

Link rejestracyjny znajduje się tutaj.

Prezentacja będzie wprowadzeniem do niskoenergetycznej odwrotnej spektroskopii fotoelektronów (LEIPS) i jej korelacji z ultrafioletową spektroskopią fotoelektronów (UPS). Obie techniki służą do wyznaczania struktury elektronowej. LEIPS do analizy stanów nieobsadzonych oraz wyznaczania powinowactwa elektronowego, a UPS do stanów obsadzonych oraz określania pracy wyjścia i potencjału jonizacyjnego. Znajomość tych parametrów pozwala wyznaczyć przerwę energetyczną.

LEIPS, niskoenergetyczny odpowiednik tradycyjnej fotoemisji odwrotnej IPES, jest nową opcją, dostępną we flagowej linii spektrometrów XPS VersaProbe III firmy PHI – czołowego dostawcy spektrometrów fotoemisyjnych, AES i ToF-SIMS.

Wszystkie prezentacjewebinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje.

XPS/HAXPES:

ToF-SIMS:

AES:

Techniki komplementarne:

Właściwości elektronowe:

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.