DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

02-10-2019
W dniu 3 października (czwartek) 2019 o godz. 17.00 zapraszamy do wysłuchania webinarium firmy Physical Electronics pt.
Electronic Band Structure Characterization using LEIPS & UPS on MultiTechnique XPS
Link rejestracyjny znajduje się tutaj.
Prezentacja będzie wprowadzeniem do niskoenergetycznej odwrotnej spektroskopii fotoelektronów (LEIPS) i jej korelacji z ultrafioletową spektroskopią fotoelektronów (UPS). Obie techniki służą do wyznaczania struktury elektronowej. LEIPS do analizy stanów nieobsadzonych oraz wyznaczania powinowactwa elektronowego, a UPS do stanów obsadzonych oraz określania pracy wyjścia i potencjału jonizacyjnego. Znajomość tych parametrów pozwala wyznaczyć przerwę energetyczną.
LEIPS, niskoenergetyczny odpowiednik tradycyjnej fotoemisji odwrotnej IPES, jest nową opcją, dostępną we flagowej linii spektrometrów XPS VersaProbe III firmy PHI – czołowego dostawcy spektrometrów fotoemisyjnych, AES i ToF-SIMS.
Wszystkie prezentacje i webinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje.
XPS/HAXPES:
ToF-SIMS:
AES:
Techniki komplementarne:
Właściwości elektronowe: