Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Webinarium: podstawy fizyczne i sprzętowe TOF-SIMS

07-05-2020

Szanowni Państwo,

W dniu 14 maja (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.

TOF-SIMS 101: Introduction, Ion Beams, MS/MS, and Materials Applications

Udział w webinarium jest bezpłatny. Dodatkowe informacje w języku angielskim oraz link rejestracyjny znajdują się tutaj.

Prezentacja będzie poświęcona podstawom fizycznym i sprzętowym, możliwościom i zastosowaniu spektrometrii masowej z czasem przelotu (TOF-SIMS). Technika TOF-SIMS dostarcza informacji o składzie pierwiastkowym i chemicznym z bardzo wysoką czułością z powierzchni próbki, a po zastosowaniu dział rozpylających również z kilkudziesięciu mikrometrów w głąb. W szczególności, zostaną omówione:

  • wiązki jonowe wykorzystywane w tej technice, tj. wiązki analityczne (Binq+, Aunq+, C60q+, Ga+), wiązki do rozpylania (O2+, Cs+, Ar+, klastrowe Ar2500+) i do odkrywania objętości próbki (Ga+ FIB),
  • mapowanie składu powierzchni z  rozdzielczością <70 nm,
  • detekcja tandemowa MS/MS (=MS2) znacznie ułatwiająca identyfikację molekularną.

Physical Electronics (PHI) to wiodący producent spektrometrów XPS, AESTOF-SIMS do analizy powierzchni próbki.

Wszystkie prezentacjewebinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje.

XPS/HAXPES:

ToF-SIMS:

AES:

Techniki komplementarne:

Właściwości elektronowe:

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.