Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Webinarium: XPS ze skanującą wiązką

14-04-2020

Szanowni Państwo,

W dniu 16 kwietnia (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.

Avoiding misinterpretations in the spectroscopic analysis of heterogeneous materials: the role of small area XPS analysis

Udział w webinarium jest bezpłatny. Link rejestracyjny znajduje się tutaj.

Prezentacja będzie poświęcona możliwościom spektrometrów XPS z małą i skanującą wiązką promieniowania X w porównaniu do spektrometrów z wiązką dużą i stacjonarną. Przewaga spektrometrów skanujących jest wyraźna na próbkach niejednorodnych powierzchniowo. Możliwość uzyskania obrazu powierzchni poprzez detekcję elektronów wtórnych (generowanych wiązką rentgenowską) daje możliwość łatwego wyszukiwania cech na próbce do dalszej analizy XPS. Ponadto, możliwe jest mapowanie składu chemicznego z rozdzielczością lateralną na poziomie średnicy wiązki (tu ~10 µm). Dla odmiany, analiza XPS przy pomocy dużej i statycznej wiązki daje jedynie wynik uśredniony po jej średnicy. W prezentacji zostaną pokazane liczne przykłady analizy XPS próbek niejednorodnych – z zanieczyszczeniami powierzchniowymi, po testach tribologicznych i korozyjnych, przekroje multiwarstw i wreszcie małe obiekty w innych matrycach/osnowach.

Dodatkowe informacje w języku angielskim można znaleźć tutaj.

Wspomniana technologia dająca możliwość uzyskania rentgenowskiej wiązki skanującej jest dostępna we wszystkich spektrometrach XPS firmy PHI – czołowego dostawcy spektrometrów fotoemisyjnych, AES i ToF-SIMS.

Wszystkie prezentacjewebinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje.

XPS/HAXPES:

ToF-SIMS:

AES:

Techniki komplementarne:

Właściwości elektronowe:

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.