DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

04-04-2016
Firma EDAX Inc. wprowadziła na rynek detektory EDS z okienkami wykonanymi z azotku krzemu (Si3N4), które są alternatywą dla typowo stosowanych okienek polimerowych, znanych ze swojej delikatności.
Si3N4 posiada bardzo dobre właściwości mechaniczne i termiczne, dzięki czemu jego cienkie warstwy są odporne na różnice ciśnień, na wstrząsy i uderzenia, na wysokie i niskie temperatury (LN2), na zmiany temperatury oraz na czyszczenie plazmowe. Cechy te sprawiają, że materiał ten doskonale nadaje się do wytwarzania cienkich i wytrzymałych okienek do detektorów EDS.
Dzięki dużej odporności mechanicznej Si3N4, grubość okienek EDS z niego wykonanych wynosi poniżej 100 nm, w porównaniu do 300 nm dla warstw polimerowych. Zapewnia to lepszą o ok. 35% transmisję promieniowania rentgenowskiego w zakresie niskich energii, co pokazano na wykresie poniżej. Wyższość tych okienek nad polimerowymi będzie się zatem ujawniała zwłaszcza przy analizie lekkich pierwiastków.
W chwili obecnej okienka te są montowane w następujących seriach detektorów EDS SDD firmy Edax Inc.:
Więcej informacji o detektorach EDS firmy EDAX można znaleźć tu.
Porównanie funkcji transmisji promieniowania X przez okienka polimerowe i z azotku krzemu:
Prezentacja video – testowanie okienek z Si3N4: