XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski)
Analiza pierwiastkowa (w zakresie od C do Am) z dokładnością ppm. Wyznaczanie grubości warstw oraz składu pierwiastkowego w poszczególnych warstwach.
(Polski)
Rozmiar i kształt próbki zależą od zastosowanego stolika. W ogólności średnica próbki na stoliku ręcznym i automatycznym wielopozycyjnym może wynosić do 51,5 mm. Po wyjęciu karuzeli w urządzeniu można umieścić próbkę gabarytową o rozmiarze nie większym niż 45 x 42 cm.
(Polski)
Próbki do analiz przygotowuje się zwykle poprzez stapianie i prasowanie przy pomocy specjalnych urządzeń. Pozwala to na uzyskanie próbki w postaci stopionej perły lub sprasowanej pastylki. W przypadku cieczy, nalewa się je do jednorazowego pojemnika (50 ml), który przykryty jest folią o dużej przepuszczalności dla promieni rentgenowskich. W takich pojemnikach można również badać sypkie proszki.
(Polski)
Obsługa urządzenia jest prosta i intuicyjna. Pomiar trwa kilka minut i zależy od zadanych w oprogramowaniu parametrów. Pomiar może zostać w pełni zautomatyzowany.
(Polski)
Wyniki otrzymuje się jako widmo XRF (natężenie vs energia) w formie graficznej. Ponadto, obliczony skład procentowy analizowanego obszaru jest wyświetlany w formie tabeli.
(Polski)
Maksymalny wymiar urządzenia to 66 x 70 x 60 cm.
(Polski)
W pomieszczeniu wymagany jest stabilny stół, gniazdo z zasilaniem 230 V oraz butla z helem wraz z reduktorem. Wskazane jest aby w pomieszczeniu panowała stabilna temperatura w zakresie 15-35°C.
(Polski)
Poziom hałasu urządzenia ≤ 61 dB.
(Polski)
Koszty eksploatacyjne związane są głównie z przygotowaniem próbek i obejmują zakup folii, pojemników jednorazowych i aluminiowych kapsli, substancji łączących (np. wosk) i topników (np. czteroboran litu).