Harmonogram szkoleń FEI 2016

01-03-2016

Firma FEI podała harmonogram szkoleń podstawowych i aplikacyjnych na rok 2016 dla użytkowników mikroskopów transmisyjnych i skaningowych elektronowych oraz skaningowych jonowo-elektronowych. Harmonogram wraz z pełnym opisem szkoleń i możliwością rezerwacji poszczególnych terminów znajduje na stronie FEI Academy, dostępnej po zalogowaniu się do serwisu FEI. Zakup tych szkoleń dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft.

Dla ułatwienia poniżej, w formie skondensowanej, podajemy daty wszystkich szkoleń.

Uwaga!

Szkolenia mają ograniczoną ilość miejsc (zwykle 6-8)
Terminy szkoleń mogą ulec zmianie. Aktualne dane znajdują się zawsze na stronie internetowej FEI Academy.

	Podstawowe	Zaawansowane
TEM	Tecnai Basic Course 07-11 III 2016 06-10 VI 2016 12-16 IX 2016 07-11 XI 2016 Talos Basic 07-11 III 2016 06-10 VI 2016 12-16 IX 2016 07-11 XI 2016	TEM Advanced Materials Science 14-18 III 2016 13-17 VI 2016 19-23 IX 2016 14-18 XI 2016 Titan Advanced Materials Science 14-18 III 2016 13-17 VI 2016 07-11 XI 2016 Electron Tomography 18-22 IV 2016 17-21 X 2016 Tecnai Advanced Life Science Cryo 11-15 IV 2016 10-14 X 2016 Titan Krios —
SEM	Quanta FEG/Inspect FEG 07-09 III 2016 06-08 VI 2016 12-14 IX 2016 07-09 XI 2016 Quanta/Inspect 07-09 III 2016 06-08 VI 2016 12-14 IX 2016 07-09 XI 2016 Nova NanoSEM 07-09 III 2016 Verios/Magellan —	ESEM (Peltier Cooling Stage) 10-11 III 2016 09-10 VI 2016 15-16 IX 2016 10-11 XI 2016 Heating Stage — Gunshot Residue (EA Malmedy, Belgia) na zamówienie
DualBeam	Quanta 3D (FEG)/Versa 3D — Helios 660 NanoLab 14-16 III 2016 13-15 VI 2016 19-21 IX 2016 14-16 XI 2016 Scios 14-16 III 2016 13-15 VI 2016 19-21 IX 2016 14-16 XI 2016	Patterning — TEM Sample Preparation 17-18 III 2016 16-17 VI 2016 22-23 IX 2016 17-18 XI 2016s