DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

21-03-2017
Serdecznie zapraszamy do odwiedzenia stanowiska firmy Labsoft na Targach Przemysłowej Techniki Pomiarowej Control-Stom, które odbędą się w dniach 28-30 marca 2017 w Kielcach.
Znajdziecie nas Państwo przez cały czas trwania targów na stanowisku firmowym zlokalizowanym w centralnej części hali „F”.
W trakcie targów na naszym stanowisku będzie możliwość zapoznania się z możliwościami badawczymi mikroskopu cyfrowego Leica DVM6, umożliwiającego m.in tworzenie map 3D topografii powierzchni czy automatyczne łączenie wielu obrazów. Ponadto, do Państwa dyspozycji będzie także interferometr laserowy SIOS SP15000C umożliwiający kalibrację maszyn przemysłowych poprzez precyzyjny pomiar odległości i kąta.
Do zobaczenia!