DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

15-05-2013
W dniach 21-22 maja 2013 w Rzeszowie odbędzie się Symposium on Nanostructured Materials NANO 2013. Seminarium to jednocześnie inauguruje działalność Centrum Dydaktyczno-Naukowego Mikroelektroniki i Nanotechnologii Uniwersytetu Rzeszowskiego. Centrum to zostało wyposażone w najnowsze urządzenia do wytwarzania i badania niskowymiarowych struktur półprzewodnikowych.
Firma Labsoft dostarczyła następujące urządzenia:
▪ mikroskop S/TEM Tecnai Osiris firmy FEI,
▪ mikroskop SDB Helios 650 firmy FEI z układem ELPHY Multibeam do litografii Raith,
▪ mikroskop SDB Quanta 3D 200i firmy FEI,
▪ urządzenia do preparatyki EM firmy Leica,
▪ profilometr DektakXT firmy Bruker.
W czasie Sympozjum specjaliści aplikacyjni firmy FEI – dr Anthony Burgess i prof. Dong Tang – przeprowadzą pokaz możliwości mikroskopów Helios i Tecnai Osiris.