Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Nowy stolik DENSsolutions do FIB/SEM

26-04-2020

Firma DENSsolutions, producent holderów in-situ, wprowadziła nową wersję (3.0) stolika ułatwiającego preparatykę lamelek FIB i przenoszenie ich na nano-chipy MEMS. W nowej wersji zoptymalizowano geometrię tak, aby cały proces był bardziej przyjazny dla użytkownika i bezkolizyjny dla mikroskopu, chipa i lamelki.

Więcej informacji można znaleźć: tu (po polsku) oraz tu (po angielsku).

Proces przygotowania lamelki FIB i jej transferu na nano-chipy z wykorzystaniem nowego stolika przedstawiono na filmie poniżej.

Kategorie

Archiwa

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD, SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

MIKROSKOPIASIŁ ATOMOWYCH I PROFILOMETRIA

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA TEM, STEM, SEM, DB

SERWIS I WSPARCIE

WYTWARZANIE WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI