DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

13-01-2014
Firma Labsoft zaprasza na pokaz możliwości badawczych ultra-nanotwardościomierza UNHT firmy CSM Instruments, który odbędzie się w dniach 16.01.2014 (czwartek) i 17.01.2014 (piątek). Miejsce pokazu to:
Politechnika Śląska
Wydział Inżynierii Biomedycznej
Katedra Biomateriałów i Inżynierii Wyrobów Medycznych
ul. Generała Charlesa de Gaulle’a 72
41-800 Zabrze
Ultra nanotwardosciomierz służy do badań właściwości mechanicznych materiałów w nanoskali przy bardzo niskich obciążeniach (0-100 mN), takich jak: twardość instrumentalna, moduł Younga, praca plastyczna i elastyczna, praca całkowita, relaksacja i pełzanie. Urządzenie dzięki dokładnemu systemowi referencji pozwala na precyzyjne badania materiałów litych, bardzo cienkich powłok i polimerów.
Wszystkie zainteresowane osoby uprzejmie prosimy o kontakt z Marią Dużyją (Labsoft) pod nr tel. 885 666 646 lub mailowo md(at)labsoft.pl.