Mikroskopy SEM Aspex firmy FEI to zautomatyzowane urządzenia, które są przeznaczone głównie do kontroli czystości i jakości procesów technologicznych, m.in. w przemyśle metalurgicznym, motoryzacyjnym, lotniczym, paliwowo-energetycznym i farmaceutycznym. Główne zastosowania to automatyczna analiza geometryczna i chemiczna cząstek i cech oraz badanie procesów utleniania, korozji oraz segregacji faz. Mikroskopy wyposażone są w detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSED i/lub elektronów wtórnych SED, które tworzą obrazy mikrostruktury i jej składników oraz w zintegrowany detektor EDS OmegaMax typu SDD o dużym kącie bryłowym do analizy składu chemicznego. Dane pomiarowe są zbierane automatycznie, a dynamiczna kontrola skanowania wiązki i wydajne algorytmy rozpoznawania cech umożliwiają analizę do 30 000 cząstek/godzinę. Obróbka danych pomiarowych i raportowanie wyników są zgodne z normami przemysłowymi. Zintegrowany system redukcji drgań oraz osłona kolumny przed polem magnetycznym, sprawiają że mikroskopy Aspex mogą pracować w trudnych warunkach środowiskowych, w tym na halach produkcyjnych. Cechy szczególne to wysoka niezawodność, szybkość i automatyzacja oraz konstrukcja zapewniająca ograniczenie czasów przestoju na wymianę elementów zużywalnych i czynności konserwacyjne. Natomiast proste i intuicyjne oprogramowanie Perception sprawia, że obsługa systemu nie wymaga specjalistycznej wiedzy, oczekiwanej zwykle od operatorów typowych mikroskopów SEM. Dostępne są dwa modele, przystosowane do wybranych zastosowań, które różnią się wymiarami, napięciami przyspieszającymi oraz konfiguracją. Model Extreme przystosowany jest do częstych zmian środowiska pracy, natomiast Explorer posiada najlepsze parametry obrazowania. Ponadto, Aspex Explorer może zostać wyposażony w oprogramowanie do automatycznej kontroli czystości (analizator CleanCHK) oraz automatycznej analizy wtrąceń (analizator MQA).

Modele: Explorer (5-25 kV, rozdz. 7 nm, SED i BSED, SSD max. 30 mm²), Extreme (5-20 kV, rozdz. 30 nm, BSED)

formularz kontaktowy

Inne mikroskopy SEM: Verios XHR, Nova NanoSEM, Teneo, Quanta, Inspect, COXEM (nastołowy)

Analiza cząstek – prezentacja wideo (film AVI, 8 MB)