DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

Hysitron TI 980 firmy Bruker to urządzenie zaprojektowane do badań właściwości mechanicznych różnego rodzaju materiałów. Unikalna konstrukcja głowicy pomiarowej umożliwia pomiar parametrów statycznej nanoindentacji takich jak: moduł Younga, twardość instrumentalna, odporność na pękanie, pełzanie oraz relaksacja naprężeń. Głowica 2D, posiadająca możliwość ruchu w osi X, umożliwia badanie odporności na zarysowanie, rozwarstwienia oraz wyznaczanie współczynnika tarcia. Ponadto, urządzenie umożliwia badanie objętości, szybkości i głębokości zużycia. Tryb SPM insitu zapewnia obrazowanie miejsc pomiarowych z wykorzystaniem zainstalowanego wgłębnika. Bardzo duża czułość sensora siły (<75 nN) oraz bardzo niski poziom szumów sensora przemieszczenia (0,2 nm) sprawia, że urządzenie sprawdza się nawet w najbardziej wymagających aplikacjach. Opcjonalnie dostępna jest dynamiczna analiza właściwości mechanicznych (nanoDMA®, CMX). Ponadto, urządzenie można wyposażyć w czujnik emisji akustycznej oraz stolik grzewczo-chłodzący pracujący w zakresie temperaur od -150 °C do 800 °C. Można również kontrolować wilgotność względną do 80% oraz wykonać testy w środowisku elektrochemicznym. Kontroler Performech II oraz oprogramowanie TriboScan 10 realizują tryb XPM wykotrzystywany do tworzenie map właściwości mechanicznych. Obrazy z trybu XPM i SPM mogą być na siebie nakładane, co daje wyjątkowe możliwości analizy właściwości mechanicznych materiałów.
Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.