DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

Miniaturowe interferometry firmy SIOS GmbH są przeznaczone do systemów metrologicznych, urządzeń i instrumentów użytkownika. Służą one do bezkontaktowych i precyzyjnych pomiarów odległości wzdłuż jednej lub wielu osi z rozdzielczością do 0,005 nm oraz kątów z rozdzielczością do 0,001 arcsec. Zasada pomiaru wykorzystuje zjawisko interferencji – wiązka laserowa odbita od poruszającego się obiektu interferuje z wiązką referencyjną, a powstały obraz interferencyjny jest przeliczany w optoelektronicznym układzie przetwarzania na odległość. Pomiar kątów wymaga zastosowania co najmniej dwóch wiązek pomiarowych i polega na porównaniu różnicy zmierzonej odległości między nimi. Głowica pomiarowa interferometrów firmy SIOS jest sprzęgnięta światłowodowo z laserami He-Ne o stabilizowanej częstotliwości. Wpływy środowiska na pomiar są kompensowane poprzez korekcję długości fali. Urządzenia są obsługiwane z poziomu niezależnej klawiatury lub oprogramowania PC. Główne zastosowania to układy pomiarowe do stolików przesuwnych, mikroskopowych, pozycjonujących, obrabiarek, urządzeń do prób materiałowych oraz kalibracja instrumentów metrologicznych i bezkontaktowa profilometria powierzchni. Dostępnych jest wiele następujących typów, które różnią się głównie geometrią, liczbą wiązek pomiarowych oraz zakresem pomiarowym i zastosowaniem:
Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.