DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.
EM – książki
Poniżej przedstawiamy listę książek związanych z mikroskopią elektronową, z treścią których naszym zdaniem warto się zapoznać. Lista będzie sukcesywnie uzupełniana w czasie. Ponadto, będą się tu pojawiały krótkie opisy, a w niektórych przypadkach osobne recenzje. Po kliknięciu w tytuł książki zostaniecie Państwo przekierowani na odpowiednią stronę serwisu Google Books, o ile dana książka może być tam przeglądana.
EM:
Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy; An Introduction to TEM, SEM and AEM, Springer 2005
Jon Orloff, Handbook of Charged Particle Optics, CRC Press 2009
Terrence D. Allen (ed.), Introduction to Electron Microscopy for Biologists, Elsevier 2008
TEM:
D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer 2009
John C.H. Spence, High-Resolution Electron Microscopy, Oxford University Press 2003
L. Reimer, H. Kohl, Transmission Electron Microscopy; Physics of Image Formation, Springer 2008
P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson, D.W. Pashley, Electron Microscopy of Thin Crystals, Butterworths 1965
C.C. Ahn (ed.), Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Material Science and The EELS Atlas, Wiley-VCH 2004
J. Ayache, L. Beaunier, J. Boumendil, G. Ehret, D. Laub, Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy; Methodology, Springer Science 2010
J. Ayache, L. Beaunier, J. Boumendil, G. Ehret, D. Laub, Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy; Techniques, Springer Science 2010
SEM:
J. Goldstein Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Kluwer/Plenum 2003
L. Reimer, Scanning Electron Microscopy, Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer 1998
W. Zhou, Z. Lin Wang (ed.), Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications, Springer 2006
Debbie J. Stokes, Principle and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM), Wiley 2008
A. J. Schwartz, M. Kumar, B. L. Adams, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Springer 2009
Patrick Echin, Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer 2009
FIB:
L.A. Giannuzzi (ed.), F.A. Stevie (ed.), Introduction to Focused Ion Beams; Instrumentation, Theory, Techniques and Practice, Springer 2005
